軍用電子元器件標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范中規(guī)定的可靠性保證要求有兩種表征方式，即失效率等級和產(chǎn)品保證等級。前者用于大多數(shù)（并非全部）電子元件可靠性水平的評定，后者則用來評價電子器件（包括部分電子元件）的可靠性保證水平。

元件的失效率等級

失效率是量化表征產(chǎn)品可靠性水平的一種特征數(shù)，在以其為可靠性表征方式的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范中規(guī)定有關(guān)從10-5/h和10-8/h的四個等級。惟須注意的是只有10-5/h才做定級鑒定，高于它的等級則利用已鑒定定級的10-5/h等級后的延長試驗(yàn)和維持試驗(yàn)數(shù)據(jù)予以確定。無論等級高低，可靠性保證體系方面的要求（指可靠性保證大綱標(biāo)準(zhǔn)中統(tǒng)一規(guī)定并為產(chǎn)品規(guī)范所具體明確的要求）都是同一的。

這種表征方式主要用于電容器、電阻器以及繼電器等電子元件的可靠性要求及其評價方面。需要說明的是：由于這些元件以往的規(guī)范，均以“有可靠性指標(biāo)的×××總規(guī)范（詳細(xì)規(guī)范）”定名，而容易產(chǎn)生沒有冠以“有可靠性指標(biāo)的×××”就沒有可靠性要求甚至無可靠性的誤解。“有可靠性指標(biāo)”英文縮寫為“ER”是“Established Reliability”，其基本含義是“確立（或建立）可靠性”包括兩方面的含義：一是確立可靠性保證要求，二是確立可靠性的量化值。就“確立可靠性保證要求”的含義而言，是軍用電子元器件標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范共同的內(nèi)容，而“確立可靠性的量化值”則是失效率等級表征可靠性保證要求的元件規(guī)范特有的內(nèi)容。為了減少因標(biāo)準(zhǔn)名稱而產(chǎn)生的誤解，應(yīng)當(dāng)考慮用更為合適的修飾語，如可否用“規(guī)定失效率等級的×××等”替代“有可靠性指標(biāo)的×××”來定名規(guī)范的名稱。

我國于1979年發(fā)布了國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1772-79《電子元器件失效率試驗(yàn)方法》，對有可靠性指標(biāo)（ER）的軍用元件，規(guī)定了失效率等級，該國標(biāo)是參照采用了美軍標(biāo)MIL-STD-690B（1968）而制定的，一直沿用到九十年代初期。1996年發(fā)布了國家軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB2649-96，該國家軍標(biāo)等效采用了美軍標(biāo)MIL-STD-690C（1993），今后國軍標(biāo)有可靠性指標(biāo)的貫標(biāo)元件將主要采用GJB 2649-96。但目前大多數(shù)列入合格產(chǎn)品目錄（QPL）中有可靠性指標(biāo)的元件，仍沿用GB/T 1772-79規(guī)定的失效率等級，兩者的失效率等級代號很易混淆，現(xiàn)將這兩個標(biāo)準(zhǔn)失效率等級的分類及代號同時列于表失效率等級。  

產(chǎn)品保證等級

作為另一種表征方式的產(chǎn)品保證等級，則與失效率等級表征方式有較大不同。其一是產(chǎn)品保證等級沒有直觀的量化數(shù)值，其二是不同產(chǎn)品保證等級有不同的保證要求。采用產(chǎn)品保證等級表征可靠性水平的產(chǎn)品最典型的是半導(dǎo)體器件，包括集成電路。在GJB33《半導(dǎo)體器件總規(guī)范》中明確規(guī)定產(chǎn)品保證等級為JP（普軍級）、JT（特軍級）、JCT（超特軍級）。在某些電子元件的總規(guī)范中雖未明確指出產(chǎn)品保證等級，實(shí)際上產(chǎn)品保證等級為一級——J(軍級)；還有的規(guī)范明確規(guī)定供宇航用，如GJB599《耐環(huán)境快速分離高密度圓形電子連接器件總規(guī)范》中明確規(guī)定供宇航用，即產(chǎn)品保證等級為宇航級。

事實(shí)上，具有確定產(chǎn)品保證等級的器件（或元件），當(dāng)然存在有與該等級相應(yīng)的固有可靠性水平。只是由于這類器件（或元件）的失效時間函數(shù)不服從指數(shù)分布或（和）受設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料、工藝等影響甚大，而不采用并通過試驗(yàn)給出相應(yīng)的失效率。當(dāng)然，如果不考慮經(jīng)濟(jì)與時間因素而進(jìn)行常時間恒定應(yīng)力試驗(yàn)，還是可以得出大體相當(dāng)?shù)氖蕯?shù)據(jù)。但是，畢竟經(jīng)濟(jì)與時間的投入難以承受。資料上見到的這類元件、器件的失效率，據(jù)分析有兩個來源，一個是生產(chǎn)方的最終檢驗(yàn)與試驗(yàn)數(shù)據(jù)的累積處理結(jié)果，另一個是使用方的現(xiàn)場失效統(tǒng)計(jì)分析。

MIL-STD-11268《電子設(shè)備用元器件、材料與工藝》在界定高可靠性元器件時就明確指出，凡按失效率表征可靠性（ER：Established Reliability）的規(guī)范供貨的P級（10-6/h）及其以上的元件，和按規(guī)定有產(chǎn)品保證等級的規(guī)范供貨的B級及其以上（對于微電路）和JANJX級及其以上（對半導(dǎo)體分立器件）的器件，均屬于高可靠性器件，并依這一界定采購使用需要的高可靠元器件。

在軍用標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范中，對不同產(chǎn)品保證等級規(guī)定有不同的保證要求。保證要求的多少和嚴(yán)格程度的高低，決定了保證等級的高低。但應(yīng)當(dāng)指出，并不是所有的軍用標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范都明確標(biāo)明產(chǎn)品保證等級。當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范只包括一個等級或只包括一個且屬較低等級時，標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范就僅規(guī)定產(chǎn)品鑒定和質(zhì)量一致性檢驗(yàn)要求，而未明確保證等級，因?yàn)榈燃墐H用來區(qū)別表示兩個或兩個以上的等級。

軍用電子元器件的產(chǎn)品保證要求所包括的典型內(nèi)容有產(chǎn)品保證大綱審查、工廠或生產(chǎn)線認(rèn)證、產(chǎn)品鑒定檢驗(yàn)、檢驗(yàn)批構(gòu)成、可追溯性、生產(chǎn)過程檢驗(yàn)、篩選以及質(zhì)量一致性檢驗(yàn)等。產(chǎn)品保證等級愈高，所涉及的保證要求內(nèi)容愈多和愈嚴(yán)。如用于航天的產(chǎn)品保證等級（S級集成電路，JANS級半導(dǎo)體分立器件）的產(chǎn)品保證要求，就涉及了上述內(nèi)容的全部；而用于航空或類似應(yīng)有場合的產(chǎn)品保證等級的產(chǎn)品保證要求，在保證要求內(nèi)容和嚴(yán)格程度上則少于和低于航天用產(chǎn)品保證等級。而不以失效率表示可靠性的元件規(guī)范中規(guī)定的產(chǎn)品鑒定和質(zhì)量一致性檢驗(yàn)，即是屬于產(chǎn)品保證要求內(nèi)容最少的產(chǎn)品保證等級，標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范根據(jù)應(yīng)用場合的不同，在鑒定和質(zhì)量一致性檢驗(yàn)中規(guī)定的項(xiàng)目多少和嚴(yán)酷度高低也是不同的。本文源自澤天傳感，轉(zhuǎn)載請保留出處。